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邦納K50Z多點測量傳感器在半導(dǎo)體行業(yè)的應(yīng)用

閱讀次數(shù):404    發(fā)布時間:2025-03-25 18:03:45

半導(dǎo)體硅晶材料,作為高純度硅片的核心形態(tài),具備卓越的電學(xué)特性與機(jī)械穩(wěn)定性,是集成電路、太陽能電池等電子元器件制造中不可或缺的基礎(chǔ)材料。這類材料對環(huán)境條件極為敏感,溫度、濕度及靜電等外部因素的波動均可能導(dǎo)致污染或結(jié)構(gòu)損傷,因而在物料輸送過程中必須嚴(yán)格把控各項參數(shù)。

在硅晶材料的輸送流程中,進(jìn)料與出料的精準(zhǔn)控制是保障生產(chǎn)效率和產(chǎn)品一致性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。為確保料斗內(nèi)硅晶粒的料位始終處于安全區(qū)間,必須實施可靠的料位監(jiān)測機(jī)制。一旦料位超出設(shè)定上限,系統(tǒng)需及時觸發(fā)報警信號。

實際應(yīng)用需求:需對料斗內(nèi)硅晶粒的料位進(jìn)行持續(xù)監(jiān)測,確保其處于可控范圍。若料位過高,系統(tǒng)應(yīng)輸出報警信號。

主要技術(shù)挑戰(zhàn):部分硅晶材料表面具有較強(qiáng)的反光特性,且物料形態(tài)不規(guī)則,導(dǎo)致傳統(tǒng)單點激光檢測方式易因反光干擾而失效。

邦納公司針對性解決方案:采用K50Z系列多點測量傳感器,對料斗中硅晶粒的料位狀態(tài)進(jìn)行多點判斷與高位報警。

方案應(yīng)用

1、將K50Z多點測量傳感器安裝于料斗側(cè)上方適當(dāng)位置,以實現(xiàn)對料位的穩(wěn)定監(jiān)測;

2、啟用傳感器內(nèi)置的自動校正功能,有效補(bǔ)償因安裝傾斜可能引入的測量誤差;

3、運用該傳感器的窗口多點檢測模式,對設(shè)定范圍內(nèi)的料位變化進(jìn)行精確監(jiān)控與判斷。

通過上述配置,系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)對硅晶粒料位的可靠監(jiān)測,并在異常情況下及時發(fā)出報警,從而保障生產(chǎn)過程的穩(wěn)定與材料的安全。


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